深亚微米工艺下IC的EMC问题及其测量  

作　　者：潘松 李逍波 

机构地区：[1]上海海尔集成电路公司

出　　处：《电子产品世界》2004年第01A期106-108,共3页Electronic Engineering & Product World

关 键 词：EMC 集成电路 深亚微米工艺 电磁干扰 测试标准 

分 类 号：TN40[电子电信—微电子学与固体电子学] TN03