石英晶体测试中的π网络零相位检测技术  

作　　者：王艳林[1] 李东[1] 刘桂礼[1] 

机构地区：[1]北京机械工业学院

出　　处：《航天制造技术》2004年第2期16-20,共5页Aerospace Manufacturing Technology

基　　金：北京市教委科技发展基金项目[2000KJ-052];北京市重点实验室(机电系统测控)开放项目资助。

摘　　要：为了提高石英晶体谐振器谐振频率的测试精度,对p网络相频特性进行了研究,得出了p网络两端相位差与石英晶体谐振频率偏差的数量关系,在此基础上设计制作了p网络零相位法石英晶体测试实验系统,在1～120MHz的测试范围内,串联谐振频率的测试精度达到2ppm,重复测试精度高于0.3ppm。所设计零相位法石英晶体测试实验系统符合国际标准,性能指标优于目前国内使用的阻抗计型测试仪器。

关 键 词：石英晶体谐振器 谐振频率 测试精度 Π网络 相位检测 

分 类 号：TN75[电子电信—电路与系统]