云南高校图书馆联盟文献共享服务平台- SUBMICRON

SUBMICRON: 作品数：139被引量：261H指数：9; 导出分析报告; 相关领域：电子电信更多>>; 相关作者：李青松王志强赵辉聂刚韩小彦更多>>; 相关机构：清华大学东南大学中国石油大学（华东）中南民族大学更多>>; 相关期刊：更多>>; 相关基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划中国博士后科学基金国家高技术研究发展计划更多>>

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Effects of heavy ion irradiation on ultra-deep-submicron partially-depleted SOI devices被引量：1: 《Journal of Semiconductors》2015年第11期39-43,共5页武唯康安霞谭斐冯慧陈叶华刘静静张兴黄如; The effects of the physical damages induced by heavy ion irradiation on the performance of partiallydepleted SOI devices are experimentally investigated. After heavy ion exposure, different degradation phenomena are o...; 关键词：heavy ion displacement damages PDSOI performance degradation

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