COPROCESSORS

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An IEEE 1149.x Embedded Test Coprocessor被引量:1
《Circuits and Systems》2014年第7期170-180,共11页Ukbagiorgis Iyasu Gebremeskel José Manuel Martins Ferreira 
This paper describes a microprogrammed architecture for an embedded coprocessor that is able to control IEEE 1149.1 to IEEE 1149.7 test infrastructures, and explains how to expand the supported test command set. The c...
关键词:BUILT-IN Test Boundary-Scan EMBEDDED COPROCESSORS MICROBLAZE IEEE 1149.1 IEEE 1149.7 
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