HOT-CARRIER

作品数：18被引量：14H指数：3
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Anomalous Channel Length Dependence of Hot-Carrier-Induced Saturation Drain Current Degradation in n-Type MOSFETs
《Chinese Physics Letters》2015年第8期193-195,共3页张春伟 刘斯扬 孙伟锋 周雷雷 张艺 苏巍 张爱军 刘玉伟 胡久利 何骁伟 
Supported by Hong Kong,Macao and Taiwan Science&Technology Cooperation Program of China under Grant No2014DFH10190;the Distinguished Young Scientists Foundation of Jiangsu Province under Grant No BK20130021;the National Natural Science Foundation of China under Grant Nos 61204083 and 61306092;the Qing Lan Project
The dependencies of hot-carrier-induced degradations on the effective channel length Lch,eff are investigated for n-type metal-oxide-semiconductor field effect transistor （MOSFETs）. Our experiments find that, with d...
关键词：Anomalous Channel Length Dependence of Hot-Carrier-Induced Saturation Drain Current Degradation in n-Type MOSFETs 
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