数字电路测试

作品数：29被引量：38H指数：3
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相关作者：欧阳丹彤张立明曹子剑陈希吕永乐更多>>
相关机构：中国科学院吉林大学湖南大学中国电子科技集团第十四研究所更多>>
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基于电流信息的CMOS SRAM存储单元故障测试被引量：1
《传感器与微系统》2008年第6期100-103,共4页陈飞 王友仁 崔江 
国家自然科学基金资助项目(60374008;60501022);航空科学基金资助项目(2006ZD52044;04I52068)
针对深亚微米技术,提出了差分静态电流技术和动态电流技术相结合的方法对CMOS SRAM存储单元进行故障诊断,针对该方法改进了0-1算法。改进的0-1算法与传统的March算法相比,明显降低了测试开销。以四单元存储器为诊断实例,针对桥接故障、...
关键词：数字电路测试 电源电流检测 存储器故障 故障诊断 
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