电参数测试

作品数:53被引量:83H指数:5
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2.5D硅转接板关键电参数测试技术研究被引量:1
《微电子学》2021年第2期270-275,共6页刘玉奎 崔伟 毛儒焱 孙士 殷万军 
模拟集成电路国家重点实验室基金资助项目(6142802190502)。
硅转接板是3D IC中实现高密度集成的关键模块,获取其技术参数对微系统的设计至关重要。以实际研制的一种2.5D硅转接板为研究对象,对大马士革铜布线(Cu-RDL)、硅通孔(TSV)关键电参数的测试结构与测试方法进行了研究,并对TSV电参数测试结...
关键词:2.5D硅转接板 铜再布线 硅通孔 电阻测试 3D集成电路 
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