自动测试仪器

作品数：17被引量：17H指数：3
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SM1021C型二极管自动测试仪V_R测试重复性差的故障分析被引量：1
《电子工业专用设备》1993年第2期21-23,共3页顾约平 翁寿松 
本文对进口SM1021C型自动测试仪V_R测试重复性差的故障进行了分析,并提出改进措施,实施后故障消失。对测试非线性半导体器件时,出现类似V_R测试重复性差的故障进行了总结,并提出解决办法。
关键词：二极管 自动测试仪器 故障分析 重复性 SM1021C型 
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