相移测量

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采用反相位线性结构光栅编码的相移测量三维轮廓术
《光电子．激光》1999年第5期428-430,共3页刘维一 王肇圻 母国光 方志良 
国家自然科学基金
研究了一种线性周期编码光栅的三维轮廓术，其中采用了两个相位相反的线性周期变化的光栅光场和一个均匀光场，对被测物体进行三次采样。在获得物体三维轮廓的同时，又获得了物体的表面纹理。当背景光很暗时，经过两次采样即可获得物体...
关键词：反相位 线性编码 相移 三维轮廓术 光栅 
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