纳米制造技术

作品数:58被引量:81H指数:4
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相关领域:一般工业技术电子电信更多>>
相关作者:肖燕潘革波刘冲张德远崔岩更多>>
相关机构:中国科学院大连理工大学分子印记公司上海交通大学更多>>
相关期刊:《电子世界》《商业观察》《现代制造》《电子质量》更多>>
相关基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划陕西省教育厅科研计划项目西安工业大学校长基金更多>>
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超大规模集成电路测试技术综述被引量:12
《电子世界》2019年第15期122-123,126,共3页韦紫菱 常郝 
安徽省自然科学基金青年项目(编号:1808085QF196);安徽财经大学教学研究重点项目(编号:acjyzd201835);国家级大学生创新创业训练计划项目(编号:201810378201)
随着纳米制造技术和集成电路系统的高速发展,超大规模集成电路(VLSI)的内部结构越来越复杂,其测试难度越来越大、测试成本越来越高,本文对目前广泛应用的超大规模集成电路测试技术进行了总结和分类,分析了他们的特性和适用范畴,为今后对...
关键词:集成电路测试技术 测试成本 内部结构 纳米制造技术 集成电路系统 
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