静电损伤

作品数：58被引量：71H指数：4
导出分析报告
相关领域：电子电信更多>>
相关作者：杨盛际王海生董学任涛刘红娟更多>>
相关机构：京东方科技集团股份有限公司北京京东方光电科技有限公司珠海格力电器股份有限公司天马微电子股份有限公司更多>>
相关期刊：更多>>
相关基金：河北省自然科学基金河北省高校重点学科建设项目广东省科技计划工业攻关项目广州市科技计划项目更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

结果分析中...
选择条件：
  • 期刊=核科学与工程x
共 条 记 录，以下是1-1
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
核电仪控设备中可编程逻辑器件静电损伤的失效分析被引量：1
《核科学与工程》2012年第S2期212-215,共4页陈博 龙威 马洪杰 
本文从分析静电导致可编程逻辑器件损坏的失效机理入手,结合工作中的具体案例,阐明了失效分析在硬件问题分析中的重要作用,并给出了对可编程逻辑器件进行失效分析的基本流程。
关键词：失效分析 静电 可编程逻辑器件 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部