开关级

作品数：33被引量：48H指数：4
导出分析报告
相关领域：电子电信更多>>
相关作者：汪鹏君吴训威沈继忠杨乾坤郑雪松更多>>
相关机构：浙江大学意法半导体股份有限公司宁波大学东南大学更多>>
相关期刊：《计算机辅助设计与图形学学报》《哈尔滨工业大学学报》《微电子学》《微型电脑应用》更多>>
相关基金：国家自然科学基金浙江省自然科学基金浙江省教育厅科研计划宁波市青年（博士）科学基金更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

结果分析中...
选择条件：
  • 期刊=计算机辅助设计与图形学学报x
共 条 记 录，以下是1-1
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
全通路图法用于CMOS开关级形成测试
《计算机辅助设计与图形学学报》1989年第1期70-74,共5页梁业伟 
文中主要探讨全通路图法推广运用于MOS电路时要考虑的一些特点。采用的故障模型是逻辑线的固定断路故障和通路故障,stuck-open(on)和s.a.o(1)故障仅是它的子集,它代表了实际使用中出现的大多数故障。由于“糖葫芦串”式的通路图和MOS电...
关键词：全通路图法 CMOS 电路 测试 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部