基本参数法

作品数：85被引量：306H指数：10
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一种校正XRF光谱基体吸收效应的新方法被引量：2
《光谱实验室》1993年第4期17-21,共5页张圈世 常永福 
根据校正XRF光谱基体吸收效应的基本理论,提出了一种用基本参数法校正基体吸收效应的新方法,该法既不需要标准,又对样品和衬底靶无特别要求,仅用一些基本的物理参数(ω,J,τ)和荧光强度的测量值便可算得样品中待分析元素的含量,方便简...
关键词：X射线荧光 基体效应 基本参数法 
XRF基本参数法在锌精矿分析中的应用
《光谱实验室》1992年第6期34-35,33,共3页张矾 方明渭 岳永平 
应用XRF基本参数法,使用4个标准样品,在SIEMENS SRS300型X射线荧光光谱仪上测定了锌精矿中的Cd、Pb、Fe和Si四个元素。采用直接粉末压片法制样,分析结果与化学法结果相吻合,方法准确、经济、简便,精密度较好。
关键词：XRF 基本参数法 锌精矿 
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