半导体特性分析系统

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吉时利集成最新C-V模块及软件，4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C-V/I-V/脉冲测试
《通用机械》2008年第1期81-81,共1页
2007年10月22日吉时利宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（n...
关键词：测量模块 吉时利 SCS系统 脉冲测试 4200-SCS 半导体特性分析系统 软件 集成 
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