半导体特性分析系统

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吉时利为改良的脉冲测试发布新版测试软件
《电子测试》2007年第1期109-109,共1页
吉时利日前发布6.1版交互式KTEI,暨功能强大的KTEI(吉时利交互式测试环境)测量软件之最新版本,适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI 6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I—V能力并显著改进脉冲和DC测量的相关性。
关键词:脉冲测试 测试软件 吉时利 半导体特性分析系统 4200-SCS 改良 测量软件 最新版本 
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