PCI控制卡

作品数:4被引量:1H指数:1
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相关作者:余同正梁爽刘波封松林陈小刚更多>>
相关机构:南京航空航天大学中国科学院华中科技大学广东工业大学更多>>
相关期刊:《世界电子元器件》《新电脑》《计算机测量与控制》《工业控制计算机》更多>>
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相变存储器测试系统中的脉冲信号的改善被引量:1
《计算机测量与控制》2007年第10期1281-1282,1294,共3页梁爽 宋志棠 刘波 陈小刚 封松林 
国家重点基础研究发展计划(2006CB302700);中国科学院资助项目(Y2005027);上海市科委资助项目(05JC14076;0552nm043;AM0517;06QA14060;06XD14025;0652nm003;06DZ22017)
相变存储器测试系统由于PCI控制卡中的总线信号之间的串扰,严重影响了施加在器件单元上的波形;以保证对C-RAM(Chalcogenide-Random Access Memory)进行非晶化操作时脉冲信号下降沿的速度和整个信号的完整性,针对以上问题分别从串口与单...
关键词:相变存储器 测试系统 串口 PCI控制卡 
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