SI-PIN探测器

作品数：33被引量：110H指数：6
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SDD探测器在X荧光分析系统中的应用被引量：1
《大众科技》2012年第12期96-97,共2页何伟龙 王健 杨勇 
介绍了硅漂移(SDD)探测器在X荧光分析系统中的应用,与SI-PIN探测器在能量分辨率、计数率等性能指标上的对比,以及在系统检出限上的实验对比,SDD探测器在性能指标及检出限上有着较大的优势。
关键词：SDD探测器 SI-PIN探测器 X荧光分析 检出限 
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