TBIC

作品数：8被引量：4H指数：1
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混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现被引量：4
《电子测试》2010年第1期48-54,共7页杨兵 姜岩峰 张东 
教育部新世纪优秀人才计划(2008)资助
IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能。本文以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试...
关键词：IEEE1149.4 ABM TBIC 边界扫描单元 
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