ATR-IR

作品数：11被引量：11H指数：2
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BiI_3-nylon11纳米复合材料的XPS及ATR-IR分析被引量：1
《分析测试技术与仪器》2011年第1期42-46,共5页赵志娟 刘芬 赵良仲 
用X射线光电子能谱法(XPS)测定了BiI3与nylon11作用生成纳米复合材料后聚合物中酰胺基团的N、O内层能级电子结合能变化,同时用衰减全反射红外光谱法(ATR-IR)研究了BiI3-nylon11复合材料中BiI3对尼龙酰胺基团之间氢键作用的影响.结果表明...
关键词：纳米复合材料 X射线光电子能谱 衰减全反射红外光谱 
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