CMOS数字电路

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CMOS运算放大器内部电路电离辐射损伤研究测试系统
《核技术》2000年第9期637-641,共5页郭旗 陆妩 任迪远 余学锋 张国强 范隆 严荣良 
为了从内部研究ＣＭＯＳ运算放大器的电离辐射损伤机理，用由计算机控制的运算放大器内部单元电路损伤试验测试系统测量运放电路整体性能参数在电离辐射环境中的变化，观察电路内部各功能单元电路和ＭＯＳＦＥＴ的辐照损伤特性；该系统...
关键词：运算放大器 电离辐射损伤 测试 CMOS数字电路 
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