CMOS数字电路

作品数：19被引量：26H指数：2
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CMOS数字电路的开路故障可测性设计技术被引量：1
《微电子技术》1995年第2期34-37,共4页刘建都 
随着器件尺寸的减小和集成度的提高，CMOS技术将成为数字VLSI电路的主要技术。但是，由于CMOS电路本身结构的一些特点，使电路中管子的开路故障不能用现有的测试程序产生可靠的测试码。因此，出现了许多CMOS电路的开路故障可测性设计方...
关键词：开路故障 可测性 设计 CMOS 数字电路 
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