GIGA

作品数：85被引量：16H指数：2
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Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor被引量：1
《Journal of Computer Science & Technology》2008年第6期1037-1046,共10页王达 胡瑜 李华伟 李晓维 
This paper is supported in part by the National Natural Science Foundation of China under Grant Nos. 60633060, 60606008, 60776031, 60803031 and 90607010;in part by the National Basic Research 973 Program of China under Grant Nos. 2005CB321604 and 2005CB321605;in part by the National High Technology Research and Development 863 Program of China under Grant Nos. 2007AA01Z107, 2007AA01Z113, and 2007AA01Z476.
This paper describes the design-for-testability （DFT） features and low-cost testing solutions of a general purpose microprocessor. The optimized DFT features are presented in detail. A hybrid scan compression struct...
关键词：microprocessor design-for-testability test generation built-in self-test at-speed testing 
Challenges to Data-Path Physical Design Inside SOC被引量：2
《Journal of Semiconductors》2002年第8期785-793,共9页经彤 洪先龙 蔡懿慈 许静宇 杨长旗 张轶谦 周强 吴为民 
清华大学骨干人才支持计划 ( No.[2 0 0 2 ] 4);国家重点基础研究发展规划 ( No.G-19980 30 40 3)资助项目~~
Previously,a single data-path stack was adequate for data-path chips,and the complexity and size of the data-path was comparatively small.As current data-path chips,such as system-on-a-chip (SOC),become more complex,m...
关键词：physical design data-path bit-sliced structure SYSTEM-ON-A-CHIP giga-scale integrated circuits very-deep-submicron 
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