测试调度

作品数:46被引量:152H指数:7
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相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>
相关作者:俞洋彭喜元许川佩梁华国胡聪更多>>
相关机构:合肥工业大学桂林电子科技大学哈尔滨工业大学上海大学更多>>
相关期刊:《清华大学学报(自然科学版)》《微电子学》《上海交通大学学报》《电子科技文摘》更多>>
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基于数据切片的系统芯片测试控制技术研究被引量:2
《测试技术学报》2006年第3期195-200,共6页王党辉 樊晓桠 高德远 张盛兵 安建峰 
国家自然科学基金资助项目(60276046);陕西省自然科学基金资助项目(2005F47);十五预研资助项目(41308010308);西北工业大学青年教师基金资助项目(M016205)
在基于总线结构的系统芯片测试中,提出了在考虑扫描控制信号的条件下,采用测试数据切片的测试控制方式来降低测试调度的粒度.从而提高测试访问机制带宽的利用率.并给出了在这种控制方式下测试时间的下限值.最后采用VCS仿真器在Benc...
关键词:数据切片 测试 系统芯片 测试调度 
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