测试用例生成算法

作品数：11被引量：11H指数：2
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寄存器传输级测试用例生成算法被引量：1
《计算机辅助设计与图形学学报》2005年第9期2053-2060,共8页高燕 沈理 
国家"八六三"高技术研究发展计划(2002AA111100;2002AA110010)
基于控制流图数据流图层次模型,以分支覆盖、位功能覆盖以及语句可观测覆盖为目标,给出一个高层测试用例生成算法,并最终实现一种可行的RTL级测试生成算法.实验结果表明,在较少的测试生成时间下,该法可生成相对短的测试序列,得到与其他...
关键词：集成电路 自动测试生成 寄存器传输级 测试用例 
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