杭亮

作品数：1被引量：2H指数：1
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供职机构：浙江工业大学更多>>
发文主题：硅钢片铁损功率放大电路语言编制采样电阻更多>>
发文领域：电气工程自动化与计算机技术电子电信更多>>
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基于ARM7的硅钢片铁损测试仪被引量：2
《机电工程》2009年第3期47-49,共3页杭亮 顾伟驷 苏英俩 
浙江省科技计划资助项目(2007C21018)
铁损是评价硅钢片质量好坏的一个重要指标,介绍了一种运用ARM7智能芯片对单片硅钢片铁损进行自动测量的系统,从理论与实际运用两方面探讨了如何在不同磁通密度下对不同厚度和密度的单片硅钢片的铁损测量,并对系统的主要部分进行了介绍,...
关键词：硅钢片 单片 铁损 磁通密度 测量 
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