宋美杰

作品数：1被引量：3H指数：1
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供职机构：桂林电子科技大学更多>>
发文主题：工作寿命集成电路电子散斑干涉ESPI测量系统更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术机械工程更多>>
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基于电子散斑干涉技术快速评价半导体器件可靠性被引量：3
《光电子．激光》2011年第3期352-354,共3页袁纵横 宋美杰 熊显名 
广西科学技术厅资助项目(桂科基0731017)
提出了一种基于电子散斑干涉(ESPI)技术的快速评价半导体器件可靠性的新方法。通过给试件施加序进的加速温度应力,采用ESPI技术测量其封装离面位移随温度变化的规律预测其工作寿命。对简单半导体器件样品进行了实验,得到了散斑条纹图随...
关键词：电子散斑干涉(ESPI) 离面位移 激活能 寿命预测 
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