宋健

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供职机构:南京理工大学理学院应用物理系更多>>
发文主题:SI密度泛函研究密度泛函稳定性更多>>
发文领域:理学更多>>
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单层硅Si_6H_4Ph_2的稳定性和电子结构密度泛函研究
《物理学报》2012年第24期437-442,共6页宋健 李锋 邓开明 肖传云 阚二军 陆瑞锋 吴海平 
国家自然科学基金(批准号:10974096;11004107);高等学校博士学科点专项科研基金(批准号:20103219110032;20113219110032)资助的课题~~
采用密度泛函计算方法,研究了二维单层硅Si6H4Ph2的稳定性及其电子结构.通过对纯硅纳米片Si6、加氢钝化的硅纳米片Si6H6以及添加苯基钝化的硅纳米片Si6H4Ph2对比研究,揭示了Si6H4Ph2的稳定性机理.通过电子结构研究,发现Si6H4Ph2与Si6H6...
关键词:单层硅Si6H4Ph2 稳定性 电子结构 密度泛函 
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