曹清

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轧制和热处理工艺对Bi系超导带材晶粒取向的影响
《理化检验（物理分册）》1999年第3期111-113,118,共4页程广平 曹清 陶述霞 
利用X射线晶面衍射分析方法和扫描电镜观察手段,分析了Bi系超导带材在轧制前后以及热处理前后的晶粒取向性.实验结果表明,轧制工艺导致了有利于超导材料电学性能的晶粒取向性分布,超导晶粒的片平面即(001)晶面沿轧制平面作一致排列,这...
关键词：轧制 超导带材 晶粒取向 热处理 BI系 超导体 
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