马进峰

作品数：1被引量：1H指数：1
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集成电路高温动态老化系统硬件研制被引量：1
《电子制作》2013年第22期226-227,共2页马进峰 张福洪 石学诚 
为了确保电子元器件产品满足用户对可靠性的要求,在出厂前都对目标器件进行老化测试,从而在短时间内剔除不合格器件。本文主要介绍了新一代集成电路高温动态老化系统的研制方案,系统构成以及各个模块的实现。
关键词：老化 动态 硬件 
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