杨永安

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MCS-51系列单片机实验设备存在的缺陷及设计方案
《现代企业教育》2011年第24期136-137,共2页杨永安 
本文讨论了国内几款MCS-51系列单片机实验设备存在的缺陷,同时也提出了自己的设计方案,为新一代设备的问世提供参考,单片机实验设备中VXMCS-51为核心的产品最多。
关键词:单片机实验设备 缺陷 设计 
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