王敏

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有效消减测试成本的并行技术分析
《计算机与数字工程》2010年第9期13-15,27,共4页王敏 张虹 闫鹏 
文章通过定量分析指出,并行测试不仅降低了ATE系统的设备投资,而且能够消减测试环节中各项成本因素,因而比之低成本ATE,是更为显著、有效的测试成本消减方法。文章还指出,并行测试最佳站点数相对独立于ATE设备成本、运行成本、产品的合...
关键词：测试成本 低成本ATE 并行测试 
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