袁野

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供职机构：合肥工业大学电子科学与应用物理学院更多>>
发文主题：尺寸HCIPG休眠开关更多>>
发文领域：电子电信更多>>
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考虑NBTI的动态休眠管尺寸电源门控设计
《合肥工业大学学报（自然科学版）》2017年第3期351-356,共6页袁野 易茂祥 张林 甘应贤 黄正峰 徐辉 
国家自然科学基金资助项目(61371025;61574052;61404001)
当前纳米互补金属氧化物半导体(complementary metal oxide semiconductor,CMOS)集成电路设计中,利用电源门控(power gating,PG)技术来降低静态功耗已成为一种趋势。随着集成电路工艺尺寸的不断缩小,负偏置温度不稳定性(negative bias t...
关键词：电源门控(PG) 负偏置温度不稳定性(NBTI) 性能损失 休眠管(ST) 动态尺寸 
协同缓解PBTI和HCI老化效应的输入重排方法
《合肥工业大学学报（自然科学版）》2016年第12期1655-1660,共6页甘应贤 易茂祥 张林 袁野 欧阳一鸣 梁华国 
国家自然科学基金资助项目(61371025;61474036;61274036)
文章考虑了晶体管堆叠效应对串联晶体管的信号占空比和开关概率的影响,提出了一种更精确的正偏置温度不稳定性(positive bias temperature instability,PBTI)和热载流子注入(hot carrier injection,HCI)效应的老化模型,并引入综合考虑...
关键词：晶体管老化 正偏置温度不稳定性(嗍) 热载流子注入(HCI)效应 堆叠效应 占空比 开关概率 
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