黄勇军

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发文主题：窗函数波形分析AGILENT谱密度噪声测量更多>>
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Agilent 35670内部窗函数对噪声波形分析的影响
《国外电子测量技术》2008年第7期8-10,共3页黄勇军 徐卓华 易文胜 
频谱分析设备多具有FFT分析和谱密度分析功能,噪声测量中发现使用不同窗函数进行FFT分析时,通过频带电压级换算出来的噪声谱密度与直接测量结果有差异。利用35670动态信号分析仪,对不同窗函数情况下的FFT频带电压级和噪声谱密度级测量...
关键词：窗函数 噪声测量 FFT分析 谱密度 
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