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检索条件:"关键词=衍射测量 "
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半导体激光器特性对衍射测量影响的理论分析
《激光杂志》1998年第6期25-27,共3页胡玉禧 
半导体激光器发出的是一束发散的椭园形高斯光束,并具有温度依赖性。本文以细丝衍射测量系统为例,讨论半导体激光器的上述特性对测量精度的影响,并提出消除这些影响的方法。
关键词:半导体激光器 衍射测量 理论分析 
用长程面形仪对变线距光栅的线密度进行拼接测量
《光学学报》2023年第3期124-131,共8页韦怀坤 宦述虎 刘颖 陈火耀 邱克强 刘正坤 洪义麟 
中国科学院重大科技基础设施维修改造项目合肥光源光电子能谱光束线维修改造项目(DSSWXGZ2019-0010);合肥先进光源预研项目。
随着同步辐射光源中光束线的分辨率不断提高,衍射光栅成为影响分辨率的关键因素,因此,在将光栅安装到光束线之前,需要进行准确的测试。用长程面形仪测量合肥光源光电子能谱线所需的变线距光栅的线密度,光栅衍射角变化范围超出长程面形...
关键词:测量 衍射测量 变线距光栅 拼接测量 长程面形仪 
多峰分布的微粒粒度衍射测量方法的改进
《吉林大学学报(工学版)》2012年第1期245-249,共5页戴兵 袁银男 梅德清 江俊康 黄春妍 
国家自然科学基金项目(50976051);江苏省交通运输厅科技创新攻关计划项目(10Y25);交通运输部联合科技攻关项目(2009-353-332-280)
针对多峰分布微粒粒度衍射测量中,Chin-Shifrin积分变换反演噪声较大而易被误读为分布峰的问题,提出了一种插入函数方法,模拟计算结果证明了该方法的可行性。以线阵CCD为接受器件,对双峰、三峰及四峰分布的微粒系进行了实验测量,结果显...
关键词:光电子学与激光技术 微粒粒度 衍射测量 
Babinet原理电磁形式在金属导电屏的衍射测量中的应用
《安徽教育学院学报》2000年第3期10-12,共3页吕洪君 方林瑞 
本文从Babinet原理的电磁关系式出发 ,讨论了电磁场在金属屏和其互补屏上的衍射场之间的关系 ,导出了金属窄缝和互补窄条在平面波正入射下的电磁矢量Babinet原理的具体数学形式 ,给出其在实际测量中的应用 。
关键词:Babinet原理 金属导电屏 电磁形式 衍射测量 光学 
DyFe10Si2化合物的中子粉末衍射测量
《中国工程物理研究院科技年报》2004年第1期58-59,共2页孙光爱 陈波 
氮、碳和氢等原子进入R(Fe,M)12化合物(R=稀土元素,M=Ti,V,Cr,Mn,Mo,W和Si等)可以形成具有优异内禀磁性的间隙型金属间化合物,引起了人们的广泛关注。Dy(Fe,Si)12化合物Si原子择优占据的8f和8j位,不同于其它替代元素的...
关键词:金属间化合物 衍射测量 粉末 中子 重稀土元素 原子磁矩 内禀磁性 平行排列 
激光全场衍射计量被引量:1
《实验室科学》2008年第1期84-86,共3页王雪 齐龙 
传统的接触式测量方式由于接触应力将使得被测件变形,从而产生较大的测量误差。而衍射计量方法在测量缝宽、间隙、微孔直径及全场变形等方面有着高精度、非接触、高效率等优点,在精密检测方面起着不可或缺的作用,其原理简单,效果很好。
关键词:衍射测量 缝宽 间隙 微孔 全场变形 
中子束流第一狭缝调整装置设计
《中国原子能科学研究院年报》2008年第1期144-144,共1页李峻宏 吴立齐 李际周 高建波 刘蕴韬 陈东风 
中子衍射测量残余应力通过控制样品前后两个精密狭缝装置来限定入射、出射中子束流的大小(入射和出射束流交叉部分限定了样品内部标样体积的大小),达到精确测定样品所取标样体积内部的平均应变、应力大小,标样体积最小可至1mm×1mm...
关键词:装置设计 束流 中子 狭缝 调整 残余应力 衍射测量 平均应变 
粒子尺寸分布的激光衍射测量研究被引量:16
《光电工程》1990年第1期1-8,共8页张以谟 毛义 田学飞 
提出了用于喷雾雾化分析和固体粉末粒子的激光粒度分析仪的设计原则。给出了进行粒子测试的数学模型,编制了系统软件。用实际设计的仪器进行了喷雾雾化分析和流化床催化剂粒度测量,证明了所提出的设计原则的正确和该仪器研制的成功。
关键词:激光 粒度分析仪 粒子 衍射测量 
夫琅禾费衍射公式的一般形式被引量:7
《大学物理》2003年第11期9-14,共6页厉江帆 姜宗福 黄春佳 贺慧勇 朱江峰 
从不同的途径导出了大角度情形下亦成立的夫琅禾费衍射积分的一般形式,指出此一般形式公式是求解夫琅禾费衍射的基本公式.并通过对夫琅禾费衍射公式的级数形式的推导,揭示了傅里叶光学中"夫琅禾费衍射公式"与一般形式公式存在的差别,以...
关键词:夫琅禾费衍射 一般表达式 级数表达式 衍射测量 
Hg_(1-x)Cd_xTe分子束外延薄膜晶格参数与组分关系的研究被引量:3
《物理学报》2005年第8期3726-3733,共8页王庆学 杨建荣 孙涛 魏彦锋 方维政 何力 
国家自然科学基金(批准号:60221502)资助的课题.~~
高分辨率x射线衍射技术被应用于Hg1-xCdxTe分子束外延薄膜晶格参数的测量及其晶格应变状态的研究,研究发现Hg1-xCdxTe分子束外延薄膜内既存在正应变也存在剪切应变.通过应用晶体弹性理论,对Hg1-xCdxTe分子束外延薄膜的应变状态进行了定...
关键词:HG1-XCDXTE 外延薄膜 晶格参数 X射线衍射技术 应变状态 分子束外延 高分辨率 弹性理论 剪切应变 晶面间距 衍射测量 直接计算 常规技术 材料组分 测量误差 研究所 应用 定律 晶体 弛豫 
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