Altera在65nm半导体工艺上的发展策略  

机构地区：[1]Altera公司

出　　处：《中国集成电路》2006年第11期49-54,共6页China lntegrated Circuit

关 键 词：ALTERA TSMC FPGA 半导体工艺 测试芯片 缺陷密度 NM 发展策略 

分 类 号：TN305[电子电信—物理电子学]