低功耗单输入跳变测试理论的研究  

Research on A Low Power Consumption for Random Single Input Change Test Theory

作　　者：王义[1,2] 傅兴华[1] 

机构地区：[1]贵州大学电子信息工程学院,贵州贵阳550025 [2]贵州师范大学理学院,贵州贵阳550001

出　　处：《微电子学与计算机》2009年第2期5-7,共3页Microelectronics & Computer

摘　　要：介绍一种随机单输入跳变(RSIC)低功耗测试方案.基本原理是在原线性反馈移位寄存器(LFSR)的基础上加入代码转换电路,对LFSR输出的随机测试向量进行变换,从而得到随机单输入跳变测试序列,可以在不损失故障覆盖率的前提下,降低被测电路的开关翻转活动率,实现测试期间的低功耗.文中给出了RSIC测试序列的生成准则,以CC4028集成电路为被测电路作了研究,结果表明在进行低功耗测试时,单输入跳变测试序列比多输入跳变测试序列更加有效,在不影响故障覆盖率的情况下可以将开关翻转活动率降低到58%,证实了该方案的实用性.This paper presents a low-power test scheme for random single input change(RSIC).By adding simple control logic onOriginal linear feedback shift register(LFSR),so that the output of LFSR are modified,and RSIC test sequences can be obtained,which optimize the switching activity of circuit-under-test(CUT),and then result in decrease of test power consumption.In this paper,it is explained that theoretical bases of the generation of RSIC test sequences,study results based on CC4028 integrated circuits has been ...

关 键 词：低功耗设计 测试生成器 随机单输入跳变 线性反馈移位寄存器 译码器 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]