Zernike矩在精密光学元件疵病边缘定位中的应用  

作　　者：李艾星[1] 张颖[1] 

机构地区：[1]重庆交通大学计算机与信息学院,重庆400047

出　　处：《科技资讯》2007年第14期2-3,共2页Science & Technology Information

摘　　要：介绍了zernike矩,总结了利用zernike矩在进行边缘检测算法的步骤。由于原zernike算法有其不足之处,针对其不足之处得到改进算法。改进后的zernike矩算法在定位边缘亚象素坐标更加准确。运用改进后的zernike矩对精密光学元件表面疵病进行边缘检测,实验结果表明该方法具有很好的抗噪性,而且使得边缘定位更加精确。

关 键 词：边缘检测 亚象素 ZERNIKE矩 疵病 

分 类 号：TP312[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]