检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王彦杰[1] 杨子文[1] 廖辉[1] 胡成余[1] 潘尧波[1] 杨志坚[1] 章蓓[1] 张国义[1] 胡晓东[1]
机构地区:[1]北京大学物理学院宽禁带半导体研究中心,北京100871
出 处:《Journal of Semiconductors》2007年第z1期372-375,共4页半导体学报(英文版)
基 金:国家自然科学基金资助项目(批准号:60477011,60476028,60406007,60276010)
摘 要:运用传输线方法(TLM)测量了p型GaN合金后的Ni/Au电极的接触电阻率和电流-电压(I-V)关系,推导了合金的Ni/Au电极和p型GaN接触处的电流密度与电压(J-V)的关系.在考虑热发射机制和镜像力的基础上,通过对p型GaN的Ni/Au合金电极的I-V特性分析,进一步得出势垒高Φb=0.41eV,受主浓度Na=4×1019cm-3,能带弯曲Vi=0.26V,和EF-Ev:0.15eV.这些结果与理论值和其他实验结果符合得很好.
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