北京HI-13串列加速器低能质子单粒子翻转实验研究  

作　　者：何安林[1] 郭刚[1] 陈立[1] 沈东军[1] 任义[1] 刘建成[1] 张志超[1] 蔡莉[1] 史淑廷[1] 王惠[1] 范辉[1] 高丽娟[1] 孔福全[1] 

机构地区：[1]核物理研究所 萨斯喀彻温大学计算机与电子工程学院

出　　处：《中国原子能科学研究院年报》2012年第1期57-57,共1页

摘　　要：正空间辐射环境中的高能带电粒子(如重离子、质子)入射到航天器微电子器件或集成电路中会引起单粒子效应,导致器件工作失常或损坏。质子是空间辐射环境中的主要成分,并随着半导体技术的不断发展,现代大规模集成电路向着高集成度、低特征尺寸等趋势不断发展,这些因素使得电路敏感节点间距减小、工作电压降低,从而导致敏感节点的临界电荷降低。

关 键 词：单粒子翻转 质子单粒子效应 串列加速器 低能质子 空间辐射环境 实验研究 微电子器件 重离子 高能带电粒子 大规模集成电路 

分 类 号：TL52[核科学技术—核技术及应用]