一种能有效降低Memory BIST功耗的方法  

A Method of Reducing Power Consumption Effectively in Memory BIST

作　　者：袁秋香[1] 方粮[1] 李少青[1] 刘蓬侠[1] 余金山[1] 徐长明[1] 

机构地区：[1]国防科学技术大学计算机学院并行与分布重点实验室,长沙410073

出　　处：《计算机研究与发展》2012年第S1期94-98,共5页Journal of Computer Research and Development

基　　金：国家"八六三"高技术研究与发展计划基金项目(2011BAH04B05)

摘　　要：随着系统芯片(SoC)上存储器比重的日趋增加和Memory BIST(memory built-inself-test)的广泛应用,对较低测试功耗的嵌入式Memory BIST的设计要求越来越高,因为测试功耗一般为系统正常工作时的两倍多,而过高的功耗会烧毁电路和降低芯片成品率.通过采用按时钟域划分存储器组和串并结合的方法来降低Memory BIST的测试功耗.实验仿真结果表明,用该方法所得的最大功耗只有传统方法的1/14,可见该方法能有效降低测试时的能量损耗.随着系统芯片(SoC)上存储器比重的日趋增加和Memory BIST(memory built-inself-test)的广泛应用,对较低测试功耗的嵌入式Memory BIST的设计要求越来越高,因为测试功耗一般为系统正常工作时的两倍多,而过高的功耗会烧毁电路和降低芯片成品率.通过采用按时钟域划分存储器组和串并结合的方法来降低Memory BIST的测试功耗.实验仿真结果表明,用该方法所得的最大功耗只有传统方法的1/14,可见该方法能有效降低测试时的能量损耗.

关 键 词：MEMORY BIST 时钟域 串并结合 最大功耗 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]