刘蓬侠

作品数：12被引量：8H指数：1
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发文主题：扫描链寄存器流水线控制方法同步时序电路更多>>
发文领域：自动化与计算机技术电子电信电气工程文化科学更多>>
发文期刊：《信息工程大学学报》《计算机应用》《电脑与信息技术》《微电子学与计算机》更多>>
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一种能有效降低Memory BIST功耗的方法被引量：1
《计算机研究与发展》2012年第S1期94-98,共5页袁秋香 方粮 李少青 刘蓬侠 余金山 徐长明 
国家"八六三"高技术研究与发展计划基金项目(2011BAH04B05)
随着系统芯片(SoC)上存储器比重的日趋增加和Memory BIST(memory built-inself-test)的广泛应用,对较低测试功耗的嵌入式Memory BIST的设计要求越来越高,因为测试功耗一般为系统正常工作时的两倍多,而过高的功耗会烧毁电路和降低芯片成...
关键词：MEMORY BIST 时钟域 串并结合 最大功耗 
存储器内建自测试的程序控制方法
《微电子学与计算机》2011年第3期182-185,共4页刘蓬侠 鲁建壮 
教育部"高性能微处理器技术"创新团队基金
文中提出了一种利用处理器的指令系统编写特定程序,通过程序运行来控制完成整个存储器内建自测试过程的方法.基于此方法的设计已经成功应用于一款处理器中,有效地提高了芯片的可测试性和应用系统的容错性.
关键词：存储器 内建自测试 指令系统 程序 
可重用片上仿真调试协议结构被引量：1
《微电子学与计算机》2011年第2期6-10,共5页刘蓬侠 
教育部"高性能微处理器技术"创新团队基金项目
提出了一种可重用片上仿真调试协议结构,基于此结构设计实现的片上仿真调试逻辑,简单高效,便于重用于新的芯片和新的体系结构.
关键词：可重用 片上仿真调试 协议结构 
并行ATPG算法理论与原型系统设计技术研究
《计算机工程与科学》2003年第5期109-109,共1页刘蓬侠 
目前,制约并行ATPG算法实用化的原因是算法的可移植性。因此,我们首选提出了基于消息传递系统-并行虚拟机的并行ATPG原型系统框架,并根据它构建了一个实验系统HappyTest。由于PVM良好的可移植性。
关键词：并行ATPG算法 消息传递系统 原型系统 设计 并行算法 FS算法 
面向同步时序电路的电路并行测试生成算法
《同济大学学报（自然科学版）》2002年第10期1215-1221,共7页刘蓬侠 曾芷德 李思昆 
国家自然科学基金资助项目 ( 6 97730 35 )
面对VLSI设计规模日益增大的挑战 ,除了电路并行以外 ,其它已有的基本并行策略都无法从根本上解决测试生成的复杂性问题 .然而 ,已有的电路并行测试生成算法并未取得理想的结果 ,尤其对时序电路 .因此 ,如何划分电路 ,成为电路并行算法...
关键词：测试生成系统 同步时序电路 电路并行 触发器 大功能块 并行策略 VLSI电路 并行测试生成算法 
基于扇出源的同步时序电路故障并行故障模拟器被引量：1
《计算机研究与发展》2001年第8期1010-1015,共6页刘蓬侠 曾芷德 李思昆 
国家自然科学基金项目资助 (6 9773 0 3 5 )
从工程应用的角度出发 ,同步时序电路故障模拟采用单测试码故障并行的模拟结果更能反映实际情况 .因此 ,尽管已有的研究表明采用测试码并行的故障模拟器的速度更快 ,但研究快速的故障并行的同步时序电路故障模拟器仍然非常必要 .基于扇...
关键词：故障并行 扇出源 测试系统 故障模拟器 同步时序电路 计算机 
基于测试码并行的同步时序电路故障模拟方法被引量：1
《装甲兵工程学院学报》2001年第3期85-90,共6页刘胜利 刘蓬侠 曾芷德 
将组合电路故障模拟的一些加速技术推广到时序电路故障模拟中,提出并实现了一个功能块级的基于测试码并行的同步时序电路故障模拟方法,对部分ISCAS89Benchmark电路的模拟结果表明,该故障模拟方法有较好的性能.
关键词：故障模拟 测试码并行 单故障传播 反向追踪 无扇出区域 
一个多算法集成的灵活并行测试生成原型系统
《计算机工程与科学》2001年第5期70-73,101,共5页刘蓬侠 曾芷德 李思昆 
国家自然科学基金资助项目 ( 6 97730 35 )
并行测试生成原型系统 PATGTA基于串行 ASIC测试生成和可测性分析系统 ATGTA,采用 PVM作为并行支撑环境 ,可方便地移植于各种并行计算环境 ,采用主从模式开发并集成了多种并行算法。对 Benchmark- 89电路的实验结果表明 。
关键词：专用集成电路 并行测试生成原型系统 算法集成 
VLSI并行测试生成系统的一种动态层次框架被引量：2
《计算机工程与科学》2001年第2期79-83,共5页刘蓬侠 曾芷德 李思昆 
国家自然科学基金资助项目! (6 97730 35 )
随着 VLSI技术的发展和计算机性能的提高 ,并行测试生成系统不仅必需而且可行。本文在总结已有并行技术的基础上 ,提出了并行测试生成系统的一种动态层次框架 。
关键词：VLSI 并行测试生成系统 超大规模集成电路 并行计算机 
同步时序电路故障模拟加速方法研究与实现被引量：1
《信息工程大学学报》2000年第3期1-5,共5页刘胜利 刘蓬侠 曾芷德 
国家自然科学基金资助项目 !( 69773 0 3 5 )
本文对时序电路故障模拟的一些加速技术进行了探讨 ,提出并实现了一个功能块级的基于测试码并行的同步时序电路故障模拟方法 ,对部分ISCAS89Benchmark电路的模拟结果表明 ,该故障模拟方法有较好的性能。
关键词：故障模拟 测试码并行 单故障传播 反向追踪 无扇出区域 
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