NMOS预掺杂加剧关断状态漏电流  

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2004年第3期76-77,共2页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关 键 词：NMOS 关断状态 漏电流 寄生晶体管 浅槽隔离 

分 类 号：TN32[电子电信—物理电子学]