德摩根一致代数可度量化的一个充要条件  

A Sufficient and Necessary Condition for Metrization of a de Morgan Algebra of Uniformity

作　　者：李庆国[1] 邓自克[1] 

机构地区：[1]湖南大学数学与计量学院,湖南长沙410082

出　　处：《模糊系统与数学》2004年第4期9-12,共4页Fuzzy Systems and Mathematics

基　　金：湖南省自然科学基金资助项目

摘　　要：讨论德摩根代数上的拟一致结构与度量之间的联系 ,给出德摩根一致代数可伪度量化的一个充分必要条件 。In this paper we study the connections between quasi-uniformities and metrics in de morgan algebra. We give a sufficient and necessary condition for a demorgan algebra of Uniformity to be (pseudo-metrizable.) All conclusions include the related results of the classical topological space and the (fuzzy) topological space as special cases.

关 键 词：一致 可数基 伪度量 

分 类 号：O159[理学—数学]