检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王绍钧[1]
机构地区:[1]山东工业大学自动化工程系
出 处:《微细加工技术》1994年第3期1-5,共5页Microfabrication Technology
摘 要:本文根据磁偏转场畸变的物理原因,分析构造畸变及校正的映射函授,并给出校正电路的运算公式及公式的精度分析。Based on the physical mechanism of distortion in magnetic deflectingfieu,the distortion mapping and precorrection mapping are structured.Thecalculating formulas of the coriection ci rcuit and their precision are presentedas well。
分 类 号:TN305.7[电子电信—物理电子学]
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