检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:蔡永才[1]
机构地区:[1]四川固体电路研究所
出 处:《微电子学》1989年第5期1-7,共7页Microelectronics
摘 要:在高可靠、抗核加固IC和亚微米CMOSFET VLSI电路应用中,绝缘体上硅 (SOI)是一种很有前途的材料技术。本文对形成SOI的各种技术及其优缺点和目前状况以及未来前景作了评述。对国内的SOI研究作了简单的介绍。Silicon-On-Insulator is a very promising material in applications to the fabrication of highly reliable,radiation hard ICs and the future submicron CMOS FET V-LSI ICs. In this paper, a review of possible techniques fcr the formation of SOI structures, their acvantsges and disacvantages, their current status and fu- ture prospects is presented. The SOI investigation activities in China are also briefly introduced.
分 类 号:TN304.055[电子电信—物理电子学]
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