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作 者:钱毅[1] 郑婉华[1] 郑联喜[1] 张霞[1] 胡雄伟[1] 陈良惠[1] 王启明[1]
出 处:《Journal of Semiconductors》1994年第4期289-294,T001,共7页半导体学报(英文版)
基 金:国家自然科学基金
摘 要:本文报道在650℃的衬底温度下实现了MOCVD在(100)面和(111)面上生长GaAs与Al0.4Ga0.6As的不同的选择性.这一衬底温度比国际上以前报道的要低,对制作适于光电器件的GaAs/AlGaAs量子阱层比较有利.用此技术,在GaAs非平面衬底上生长了GaAs/Al0.4Ga0.6As量子阱,并用扫描电镜、低温光致发光谱以及偏振激发的光反射率谱技术进行了研究.结果不仅证明了MOCVD外延生长GaAs和Al0.4Ga0.6As的独特选择性,也证明了在V字形沟槽底形成了量子线.Abstract Here reports the different epitaxial selectivity of GaAs and Al(0.4)Ga(0.6)Asgrown by MOCVD on(100)and(111)plane at substrate temperature of 650℃.Such substrate temperature of 650℃ is lower than that veported previously,and ismore benifit for fabricating GaAs/AlGaAs quantum wells(QWs)epitaxial layers ofoptoelectronic devices.With this approach,GaAs/Al(0.4)Ga(0.6)As QWs are grown onGaAs nonplanar substrates.Measurements of transimission electron micrograph,lowtemperature photoluminescence and photo-reflectivity excited by polarized light areapplied to study the samples.The result not only demonstrates the unique epitaxialselectivity of GaAs and Al(0.4)Ga(0.6)As grown by MOCVD at 650℃,and also shows formation of quantum wires at the bottoms of V-grooves on the nonplanar substrates.
分 类 号:TN304.05[电子电信—物理电子学]
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