X射线荧光法快速测定硅铝合金中的硅含量  

The determination of Si in the Al-Si metal by XRFS

作　　者：董彦辉[1] 李光平[1] 郑庆瑜[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津300192

出　　处：《现代仪器》2005年第6期21-22,共2页Modern Instruments

摘　　要：本文介绍采用X射线荧光法测定硅铝合金中硅含量的方法及相关条件,并对测量结果精度进行分析。本方法具有样品前期处理简便、干扰因素小,且快速、准确等特点。In this paper, the concentration of Si in the aluminium-silicon is determined by XRFS （X-Ray Fluoresent Spectrum） .The method is simple,rapid,accurate and reproducible.

关 键 词：X射线荧光法 硅铝合金 硅 

分 类 号：S153.62[农业科学—土壤学] P618.510.8[农业科学—农业基础科学]