微电子封装无铅钎焊的可靠性研究  被引量:2

Lead-Free Trend In Microelectronics Packaging & the Reliability of Solder Interconnection Joint

在线阅读下载全文

作  者:梁凯[1] 姚高尚[1] 简虎[1] 熊腊森[1] 

机构地区:[1]华中科技大学材料学院,武汉430074

出  处:《电子质量》2006年第4期28-31,共4页Electronics Quality

摘  要:本文阐述了微电子封装采用无铅钎料的必要性,概述了无钎铅料的研究现状,最后着重分析讨论了微电子封装无铅钎焊的可靠性问题。No doubt, we are stepping into the lead-free new era .In this paper, the reasons and importance of lead-free solder material applied to mlcroelectronics packaging industry is explained; current research and development of lead-free solder material are concerned too; and the reliability of lead-free solder in microelectronics packaging Industry Is focused on.

关 键 词:无铅钎焊 微电子封装 可靠性 

分 类 号:TN405[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象