姚高尚

作品数:11被引量:58H指数:4
导出分析报告
供职机构:华中科技大学材料科学与工程学院更多>>
发文主题:开关电源可靠性研究可靠性微电子封装无损检测更多>>
发文领域:电子电信金属学及工艺电气工程机械工程更多>>
发文期刊:《电焊机》《电子质量》《电源技术应用》《理化检验(物理分册)》更多>>
-

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
条 记 录,以下是1-10
视图:
排序:
基于TOPSwitch-GX芯片的开关电源设计被引量:3
《电源技术应用》2007年第6期21-27,共7页梁凯 姚高尚 熊腊森 何敬强 
采用将PWM控制器和MOSFET功率开关自启动电路、功率开关管、PWM控制电路及保护电路一体化的开关电源集成模块芯片是新一代中、小功率开关电源设计的主流发展趋势。电路的高度集成化有助于改善电源的电磁兼容性,极大地提高了电源的效率,...
关键词:开关电源 TOPSwitch-GX芯片 PI-Expert软件 
半桥逆变电路中高频变压器的设计被引量:13
《电源技术应用》2007年第4期50-53,共4页姚高尚 梁凯 简虎 万升云 熊腊森 
依据一个半桥逆变电路的实例详细介绍了高频变压器设计的一般方法和步骤,并讨论变压器损耗和温升问题。
关键词:半桥逆变电路 高频变压器 损耗 温升 
金属磁记忆检测数据处理系统
《电焊机》2007年第3期63-65,共3页姚高尚 晁盛远 万升云 简虎 熊腊森 梁凯 
铁道部中国南方车辆集团科技项目(2004NCK057)
阐述了开发金属磁记忆检测数据(MMM)处理系统的必要性,并基于VB开发了一套功能强大的金属磁记忆检测数据处理系统,详细介绍了该系统的主要功能特点和各个功能模块的应用。
关键词:磁记忆 MMM 数据处理 无损检测 焊缝 
开关电源的电磁兼容性设计被引量:9
《电源技术应用》2007年第2期18-23,共6页梁凯 熊腊森 姚高尚 简虎 
中、小功率开关电源的单片集成化是开关电源的发展趋势之一。电路的高度集成化有助于开发出高效率、高密度、高可靠性、体积小的、重量轻的优质电源。但是,电磁干扰问题的复杂性和潜在危害性却随之加剧。所以,电磁干扰问题的深入研究对...
关键词:开关电源 电磁干扰 电磁兼容性 
EMI滤波器的PSpice仿真设计被引量:1
《电子质量》2007年第2期64-66,共3页姚高尚 梁凯 何敬强 熊腊森 
建立开关电源EMI滤波器的共模和差模等效模型,给出了利用PSpice进行仿真设计的通用的具体步骤和方法,最终得到了实用的结果。
关键词:开关电源 EMC EMI PSPICE 仿真 
基于USB接口的微型金属磁记忆检测仪
《电子质量》2007年第1期15-18,共4页梁凯 熊腊森 万升云 姚高尚 
由于金属磁记忆检测仪在铁磁材料工件早期损伤(缺陷)诊断具有较大的优势,所以其已经在石油、容器、铁路、化工等各个领域得到广泛应用。本文介绍了金属磁记忆检测仪的工作原理;概述了金属磁记忆检测仪目前的应用情况及其内部结构;阐述...
关键词:金属磁记忆检测 金属磁记忆检测仪 USB接口 
铁道车辆车轮辐板孔的磁记忆检测被引量:1
《理化检验(物理分册)》2006年第11期558-560,570,共4页万升云 简虎 李毅 姚高尚 熊腊森 
中国南车集团科技项目(2004NCK057)
研究了磁记忆检测技术在铁道机车承力部件上的应用,在对铁道机车车辆的辐板孔进行了磁记忆检测后,用磁粉检测进行了复检。结果表明,磁记忆技术可以有效发现表面裂纹等缺陷,并且能对铁道车辆车轮辐板孔产生破坏的可能性进行预测。
关键词:金属磁记忆 无损检测 铁道车辆 磁粉检测 裂纹 
磁记忆检测数据处理系统开发
《电子质量》2006年第6期10-12,共3页万升云 姚高尚 梁凯 熊腊森 
介绍了磁记忆的检测原理,开发了一套功能强大的基于VisualBasic的微磁检测仪上位机的数据处理系统,详细介绍了该系统的各个功能模块及其应用。
关键词:磁记忆 数据处理 无损检测 VISUAL Basic 
微电子封装无铅钎焊的可靠性研究被引量:6
《电焊机》2006年第5期18-21,共4页梁凯 姚高尚 简虎 熊腊森 
微电子封装材料的无铅化就是目前微电子封装技术的发展方向之一,微电子封装材料的无铅化对产品的质量可靠性带来的影响与有铅钎料封装时代不同,所以对此影响进行研究,并据此选择产品生产过程中合适的无铅钎料,制定适当的生产工艺评估标...
关键词:无铅钎料 无铅钎焊 微电子封装 可靠性 
微电子封装无铅钎焊的可靠性研究被引量:2
《电子质量》2006年第4期28-31,共4页梁凯 姚高尚 简虎 熊腊森 
本文阐述了微电子封装采用无铅钎料的必要性,概述了无钎铅料的研究现状,最后着重分析讨论了微电子封装无铅钎焊的可靠性问题。
关键词:无铅钎焊 微电子封装 可靠性 
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部