CADENCE扩展测试以及成品率诊断技术先导  

机构地区：[1]《电子与封装》通讯员

出　　处：《电子与封装》2006年第8期45-45,共1页Electronics & Packaging

摘　　要：Cadence设计系统有限公司于2006年7月20日宣布，凭借其最新的数据压缩以及成品率诊断性能，该公司正不断扩展在测试和成品率诊断领域的技术先导地位。新版Cadence Encounter Test通过为非专有的片上异或（XOR）测试数据压缩结构提供更广泛的支持，解决在制造高品质硅芯片过程中的费用上涨问题。此新型数据压缩性能增强了自动化测试矢量生成（ATPG）和诊断产品之间的多厂商互操作性，并支持使用一站式诊断流程。

关 键 词：诊断技术 测试矢量 CADENCE 成品率 先导 扩展 CADENCE 有限公司 数据压缩 设计系统 

分 类 号：TN790.7[电子电信—电路与系统] S858.3[农业科学—临床兽医学]